用戶會出于各種原因而需要測量器件的阻抗。一個典型的情況是工程師們需要對用在其所設計的電路中的器件的阻抗特性進行測量，因為通常情況下這些器件的供應商只給出了器件阻抗值的額定數(shù)據(jù)。

測量阻抗有幾種不同的技術和方法，應該根據(jù)測量的頻率范圍、要測量的阻抗參數(shù)以及想要顯示的測量結果來選擇一個具體的測試技術。

自動平衡電橋技術在從毫歐到兆歐很寬的阻抗測量范圍內有*的測量精度，與之相適應的測量頻率范圍可以從幾 Hz 到 110 MHz。

IV 和 RF-IV 技術在從毫歐姆到兆歐姆的阻抗測量范圍內的測量精度同樣很好，與之相適應測量頻率范圍可以從 40 Hz 到 3 GHz 左右。

傳輸 / 反射技術在非常寬的頻率范圍，從 5 Hz 到 110 GHz 以上，測量 50 歐姆或 75 歐姆附近的阻抗值時，具有非常高的測量精度。

LCR 表和阻抗分析儀的主要區(qū)別之一是它們對測量結果的顯示方式。 LCR 表用數(shù)字顯示測量結果，而阻抗分析儀既可以用數(shù)字也可以用圖形顯示測量結果。

LCR 表或阻抗分析儀所采用的測量技術和儀表的類型無關，根據(jù)測量的頻率范圍，它們可以采用 RF-IV、IV 或自動平衡電橋技術。

器件阻抗的測量結果還會受到在測量時所選擇的測量信號的大小的影響。

電容值 ( 或材料的介電常數(shù)，即 K值 ) 的測量結果會依賴于交流測量信號電壓值的大小。

電感值 ( 或材料的磁滯特性 ) 的測量結果會依賴于交流測量信號電流值的大小。

在測量時實際施加在被測器件兩側的交流電壓 VDUT 是和它自身的阻抗、信號源的內阻以及信號源的輸出電壓有關的。

使用儀表的自動電平控制 (ALC)功能可使被測器件 (DUT) 兩側的電壓保持在一個恒定的值上。如果儀表內部沒有 ALC 功能但是有監(jiān)測信號大小的功能，可以利用這個功能給這種儀表編寫一個相當于 ALC 功能的控制程序來保證被測器件兩端上的電壓穩(wěn)定。

在現(xiàn)實世界中沒有器件是純粹的的電阻、純粹的電容、純粹的電感。任何常用的器件通常都會有一些寄生參數(shù) ( 例如由器件的引腳、材料等引起的寄生電阻、寄生電感和寄生電容 ) 存在，表現(xiàn)器件主要特性的部分和寄生參數(shù)部分結合在一起會使一個簡單的器件在實際工作中表現(xiàn)得就像一個復雜的電路一樣。

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